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第202节 U盘研发测试完成(2 / 4)

虽然说usb主控芯片是多媒体芯片技术部负责研发,但是在关键技术是李飞支持下才完成研发,所以,基本上usb主控芯片是一版量产,没有任何问题,

那么,在usb主控芯片打样期间,就要准备u盘的电子电路设计,在pcb板极电子电路图的设计中,使用的板极eda软件,是分为两种功能软件:逻辑电路软件和pcblayout软件…

首先,在逻辑eda软件绘制器件的逻辑封装,再画出逻辑电路图,而这个逻辑电路图是根据u盘的整个模块功能进行设计的。不过,需要说明的是,在绘制逻辑封装和电路图设计时,相关器件的资料一定要向供应商索取,去确定电子器件的参数,例如:存储器和u盘的usb接口,一些电子结构零件…

在逻辑eda软件绘制完逻辑电路图后,接下来的工作,就是在pcbeda软件对器件进行pcb封装制作,包括u盘芯片,存储器的封装,按键的封装…,同样,pcb封装是需要按照供应商提供的器件参数进行设计的…

在pcbeda软件里制作好pcb器件封装后,然后,就是逻辑eda软件和pcbeda软件进行同步更新,把逻辑eda的电路图导入到pcbeda软件…,这样的话,就可以在pcbeda软件里,出现了pcb封装器件和连接电路线路,

接着在pcbeda软件,进行布局,走线,完成后,进行连接和规则检测,确定没有错误后,在pcbeda软件输出制造pcb加工文件,发给板厂进行pcb制作。

完成u盘电子电路设计后,就下了就是整理u盘的电子物料bom单子,供成本核算和电子物料准备

同时,相关的u盘技术都已经申请专利,分别在国内,米国,欧洲各国,曰本等..

很快三周后,从台积电生产打样的1oo片u盘主控芯片回到公司,那么,接下来就是芯片测试过程,

u盘主控芯片放入ate仪器的测试台内的芯片插座后,打开仪器,确定ate仪器与u盘主控芯片连接正常,然后,进行芯片测试,

ate对芯片测试基本的范围为:芯片引脚的连通性测试,芯片漏电流测试,芯片引脚dc(直流)测试,芯片功能测试,芯片esd静电测试,芯片老化测试(也就是芯片质量验证)

以及芯片稳定性测试,在温度(零下3o度和高温5o度)进行测试,确定芯片是否能正常工作…

先是对u盘主控芯片的引脚的连通性测试,芯片漏电流测试,dc(直流)测试,这是芯片测试的第一步,检测u盘主控芯片的连通性是否正常,确定芯片的内部电路连通,芯片内部电路是否有缺陷。

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